產(chǎn)品圖片	產(chǎn)品名稱/型號	品牌所有品牌德國德圖TESTO 美國KIC 美國DeltaTRAK 日本神榮嘉儀儀器美國任氏JENCO 蘭泰香港CEM 進口浙大電氣國產(chǎn) 星晟檢測時代儀器臺灣泰仕TES 美國FLUKE 臺灣衡欣AZ 德國歐普士optris 臺灣固緯GWINSTEK 日本理音RION 川嘉電子日本加野麥克斯KANOMAX 日本共立KYORITSU 華儀儀表美國雷泰Raytek 日本OPTEX 臺灣PROVA 日本HIOKI 芬蘭維薩拉英國Datapaq 美國FLIR	主要技術(shù)指標	價格
	熱成像儀 Ti50	美國FLUKE	熱靈敏度(NETD) Ti50: ≤ 0.07 °C at 30 °C	洽詢
	溫濕度記錄器 AZ8813	臺灣衡欣AZ	測量范圍攝氏 -30 至 70 度	洽詢
	爐溫測試儀（II系列） KIC Start2	美國KIC	6通道,溫度范圍：-150C 至 1050C	洽詢
	爐溫測試儀（X5系列） KIC2000 X5	美國KIC	X5擁有7通道、9通道及12通道三種款式	洽詢
	爐溫跟蹤儀 HJ-TDU06K	嘉儀儀器	6通道，測量范圍 0-1370℃	洽詢
	紅外熱像儀 TiR3FT	美國FLUKE	校準溫度范圍：-20 ˚C至100 ˚C（-4 oF至212 oF）	洽詢
	熱像儀 Ti50FT	美國FLUKE	校準溫度范圍：Ti50: -20 ˚C至350 ˚C，2量程（-4 oF至662 oF）	洽詢
	紅外熱像儀 Ti10	美國FLUKE	溫度量程（-10 °C以下未經(jīng)校準）:-20 °C~+250 °C（-4 °F～+ 482 °F）全熱輻射度是:精度：± 2 °C或2 %（取二者中較大者)	洽詢
	工業(yè)用和商用熱像儀 Ti105	美國FLUKE	溫度測量范圍 -20 °C至250 °C（-4 °F至482 °F）	洽詢
	工業(yè)用和商用熱像儀 Ti110	美國FLUKE	溫度測量范圍 -20 °C至250 °C（-4 °F至482 °F）	洽詢
	紅外熱像儀 Ti400	美國FLUKE	溫度測量范圍 -20 °C至+1200 °C（-4 °F至+2192 °F）	洽詢
	手持式紅外溫度計 Fluke 60 系列	美國FLUKE	Fluke 61 -18 °C (0 °F) to -1 °C (30 °F) ± 3 °C (5 °F) above -1 °C (30 °F) to 275 °C (525 °F)± 2% of reading or 2 °C (3.5 °F) (With the instrument stable between 23-25 °C)	洽詢
	紅外接觸式點溫儀 Fluke 566	美國FLUKE	測溫范圍 -40 °C至650 °C（-40 °F至1202 °F）	洽詢
	表面溫度校準器 3125	美國FLUKE	溫度范圍：35℃～400℃(95 °F～752 °F)	洽詢
	精密鉑電阻溫度計 5623B	美國FLUKE	溫度量程 - 100 °C到156 °C	洽詢
	紅外熱像儀 PT-618	美國FLIR	35 mm鏡頭– FOV： 18° (H) × 14° (V)	洽詢
	紅外熱像儀 PT-304	美國FLIR	100 mm鏡頭– FOV： 4.6° (H) x 3.7° (V)	洽詢
	紅外熱像儀 PT-348	美國FLIR	9 mm鏡頭– FOV： 48° (H) x 39° (V)	洽詢
	遠程監(jiān)控用熱像儀 ThermoVision2000	美國FLIR	工作溫度范圍為-32°C至+55°C	洽詢
	紅外熱像儀 FLIR B660	美國FLIR	精度 ±1 °C或讀數(shù)的±1% （限制范圍）± 2 °C或度數(shù)的± 2%	洽詢

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